220-1050nm NIST可追蹤分光輻射度計(1nm分辨率)光譜敏感度： 可見光：5 nanoW

科藝儀器有限公司 (A & P INSTRUMENT CO., LTD.) 1984年成立于香港，二十多年來以提供高素質之科學儀器、完備之技術服務而倍受科研用戶的信賴。本公司所代理世界各國數十家高科技公司的產品，幾乎包括了所有科研、教學及生產所需的數萬種儀器和設備。

產品內容涉及以下三個方面：

1. 各種激光器、激光配件及光學光電子通訊產品；



2. 大學、中學各學科的教學儀器；



3. 實驗室通用儀器及食品、環保監測、材料測試儀器。



科藝儀器有限公司以提供優質的產品和上佳的技術服務為宗旨，所有的員工都受過良好的訓練和培訓，具有較高的學識和能力。這支強大的員工隊伍使公司得以不斷的發展和完善。

220-1050nm NIST可追蹤分光輻射度計(1nm分辨率)

光譜敏感度：

    可見光：5 nanoWatt/cm²/nm

    紫外/近紅外：0.1 nanoWatt/cm²/nm

雜光阻截情況：每納米光功率的5 x 10^-4 以下

固有重復性： 0.5%

光譜精確度： 0.5 nm

輻射度精確度: ± 3 % VIS, ± 5% UV/NIR

余弦接收器精確度: ± 3% 從 0 到 90°, 對所有波長

防塵鍍鋁鑄件，堅固、防震結構設計

溫度范圍: 15 - 40°C

標準不銹鋼防護的2m耦合光纖

2048 CCD，配有級消除濾光片(order-sorting filtration)

16位數字轉換方式可以分辨大背景下的低階光譜

曝光時間在 1mS - 5S 之間可調

數據收集可以軟件控制，也可以外觸發

USB 2.0接口

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