工業鉑電阻溫度計是一種被廣泛使用的測溫儀器。長期以來，外相關標準或技術規范中普遍采用CVD方程的計算方法對其進行檢定分度。但采用CVD方程檢定分度的工業鉑電阻溫度計準確度不高、穩定性低、不確定度較大，無法作為傳遞標準使用。

為此，多數工業測溫領域或要求不高的實驗室只能采用精度較高的標準鉑電阻溫度計作為溯源傳遞標準，但實際工業測溫領域由于各種條件限制，標準鉑電阻溫度計無法使用，使得溫度量值傳遞和溯源在這些地方無法實現，不能開展實際的計量校準工作。

課題負責人、該研究院副研究員金志軍介紹說，課題主要研究采用ITS-1990溫標定義的內插公式，對工業鉑熱電阻溫度計進行檢定分度的可行性，并與普遍采用的CVD方程給出的溫度—電阻關系計算結果相比較，進而給出二者存在的差異，探討建立工業鉑電阻溫度計作為傳遞標準的途徑與方法。通過對不同型號、不同廠家制造的多支工業鉑熱電阻在不同溫區分別開展研究和分析，給出每支溫度計的實驗結果、數據曲線及采用兩種不同方法分度所引起的測量誤差。

實驗證明：ITS-1990溫標的內插方法用于工業鉑熱電阻溫度計是可行的，與CVD方程用于工業鉑電阻檢定分度的計算方法相比，具有較好的準確性和一致性。此前，意大利和加拿大的計量技術機構進行了采用溫標內插公式研究工業鉑電阻分度方法的工作。

認為，提高工業電阻測溫準確性和穩定性的傳統手段都在元件純度、封裝技術、制作流程上下功夫；該課題則從計算方法上給出了新思路，為鉑電阻和工業鉑電阻在我國溫度量值傳遞和溯源體系的完善奠定了基礎，可廣泛應用于工業鉑電阻的測溫領域。