江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)的X熒光鍍層測(cè)厚儀|光譜鍍層測(cè)厚儀|EDX鍍層測(cè)厚儀，可檢測(cè)0.005微米-50微米的金屬層厚度，主要用于電鍍廠、電子廠、機(jī)械廠、稀土永磁等眾多行業(yè)的鍍層厚度測(cè)量及電鍍槽液的分析。...

X熒光鍍層測(cè)厚儀|光譜鍍層測(cè)厚儀|EDX鍍層測(cè)厚儀
鍍層測(cè)厚儀 型號(hào)：Thick 800A

儀器簡(jiǎn)介

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1特點(diǎn)mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

詳細(xì)配置

開(kāi)放式樣品腔。
二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

適用行業(yè)

，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

X熒光鍍層測(cè)厚儀|光譜鍍層測(cè)厚儀|EDX鍍層測(cè)厚儀

Thick800A是光譜儀，其測(cè)試原理就是光譜的原理：X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光(二次X射線)，探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。


X熒光鍍層測(cè)厚儀|光譜鍍層測(cè)厚儀|EDX鍍層測(cè)厚儀

江蘇天瑞儀器股份有限公司
可提供測(cè)樣比對(duì)，如需詳細(xì)了解請(qǐng)聯(lián)系銷售熱線


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