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江蘇天瑞儀器股份有限公司

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X熒光金屬鍍層測厚儀的運用分析

發布時間:2018-05-29瀏覽次數:2190返回列表

       鍍層的厚度決定了零件的耐腐蝕、裝飾效果、防滑耐磨能力,須根據設計要求操作,保證鍍層厚度。

THICK-800系列X熒光鍍層測厚儀儀器介紹:

THICK-800系列X熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析術,可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以行電鍍液的成分濃度測定。

THICK-800系列X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會發射出各自的特征X射線,不同的元素有不同的特征X射線;探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號轉變為模擬電信號;經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機行處理;計算機有的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息,通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

它能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預處理;分析時間短,僅為數十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測量動態范圍寬,可從0.005μm到60μm。

我公司集中了的X熒光分析﹑電子術等行業術研究開發及生產術人員,依靠科學研究,總結多年的現場應用實踐經驗,結合的特色,開發生產出的THICK-900系列X熒光鍍層測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優點,廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

THICK800系列X熒光鍍層測厚儀應用域:

塑料制品業鍍層、電子材料鍍層(接插件、半導體、線路板、電容器等)、鋼鐵材料鍍層(鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等)、有色金屬材料鍍層(銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等)、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。

1.銅上鍍金單鍍層厚度測量鐵、銅等材料上鍍金的金厚度測量是業中常見的,利用Thick-900系列X熒光鍍層測厚儀可以獲得很準確

的結果。

熒光厚度與已知厚度樣品結果對比:

鍍層標準厚度(μm

0.12

0.45

1.35

2.55

4.12

5.23

7.65

鍍層熒光厚度(μm

0.11

0.48

1.37

2.47

4.06

5.35

7.58

2.銅上鍍鎳再鍍金的雙鍍層厚度測量鐵、銅等材料上鍍鎳再鍍金的厚度測量也是業中常見的,見下表:

鎳鍍層標準厚度(μm

0.15

0.85

1.30

2.15

4.56

8.13

9.55

鎳鍍層熒光厚度(μm

0.13

0.88

1.33

2.20

4.60

8.25

9.48

金鍍層標準厚度(μm

0.23

0.45

0.75

1.15

1.22

1.53

1.65

金鍍層熒光厚度(μm

0.21

0.43

0.77

1.17

1.26

1.55

1.58

3.儀器長期穩定性評定

單鍍層Ni/Cu穩定性測定:連續測定20次,計算其標準偏差和相對標準偏差,均能達到很好的效果。

測量

次數

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

Ni(um)

1.778

1.783

1.774

1.78

1.774

1.765

1.784

1.763

1.759

1.769

測量

次數

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

Ni(um)

1.751

1.768

1.78

1.763

1.792

1.768

1.792

1.762

1.752

1.754

平均

厚度

1.771

標準

偏差

0.01231

相對標

準偏差

0.00695