該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態(tài)下進行。根據(jù)物體表面溫度按余弦（或正弦）規(guī)律變化時的瞬態(tài)實驗?zāi)Ｐ汀Ｔ搩x器采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數(shù)，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下，當(dāng)溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。 
主要技術(shù)參數(shù)： 
1．導(dǎo)熱系數(shù)范圍：0.05～20w/m·k 
2．儀器實現(xiàn)數(shù)字化測溫，精度優(yōu)于0.2級。 
3．測量結(jié)果，準(zhǔn)確度 ±3% 
4．計量加熱功率可調(diào)節(jié)±1%。 
5.試樣尺寸要求：圓片或方片100*100*（0.1—5）mm. 
6.測試溫度：室溫。 
7.配接計算機實現(xiàn)全自動測試分析。 
儀器配置：測試主機一臺， 
測試軟件一套， 
計算機一套用戶自備，