HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀

       HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsAl、GaAsP，固溶體半導體，如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體材料的電阻率測量等材料的電阻率測量。

一、產品特點 

1、設備集成度高，一體化設計測量。

2、1000度的高溫爐膛，耐高溫、抗氧化的測試夾具，測量無誤

3、鉑銥合金材料測試探頭，抗氧化，經久耐用。

4、控溫精度達到±0.5℃，溫度、時間曲線直觀

5、常溫、高溫、真空、流動氣氛等多種試驗環境

6、各種樣品均可測試：單樣品塊體測量夾具，針對圓片、方塊、長條等樣品

7、自動保壓，防止擊穿