TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀

Thin film variable temperature resistance tester

關(guān)鍵詞：薄膜電阻，電阻率，電導(dǎo)率

  TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴(kuò)展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點(diǎn)。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導(dǎo)電材料的電阻率測量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測量設(shè)備。

一、產(chǎn)品特點(diǎn)

1、采用進(jìn)口恒流源與電壓表，確保測試的穩(wěn)定性和性。

2、采用自適應(yīng)PID控溫。

3、自動檢測樣品接觸特征曲線。

4、可在真空或氣氛（惰性氣體）環(huán)境下測量電阻隨溫度變化。

5、可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能

二、主要技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍：-190℃~1000℃（自動控溫，可連續(xù)采集）

2、電阻測量范圍：1μ?-100M?,準(zhǔn)確度:±0.1%FS

3、溫度測量精度：±0.5℃

4、恒流源：0.05μA~1A，準(zhǔn)確度：±1%FS（FS為滿量程值）

5、電壓：1μV~300V，準(zhǔn)確度：±1%FS（FS為滿量程值）

6、真空度：≤50Pa

7、樣品尺寸：長 x 寬:(2~5)x(2~5)，單位mm,厚度:10nm-3mm

8、測試軟件：可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能。