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標準探針臺/JKZC-DM系列基礎型探針臺

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  • 更新日期:2023-12-18 15:04
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詳細介紹

標準探針臺/JKZC-DM系列基礎型探針臺

|產品概要

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計,價格實惠,配置靈活,極具性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用,配合對應的儀器儀表,用于測試各類器件的IV、CV、l-tV-t,光電信號,1/f噪聲測試,器件表征測試,RF射頻等。如 果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺是。

|技術特點

?整機一體化設計,結構緊湊占地小,可放置于手套箱內使用;

?自適應減震底座設計,可有效過濾環境中的震動源干擾;

? U型平臺鍍鎳設計,增大針座加載空間的同時還提高了針座平臺和針座之間的吸附力。


詳細參數

產品型號

技術參數

JKZC-DM4

JKZC-DM6

JKZC-DM8

探針臺臺體

主體材料

航空鋁

航空鋁

航空鋁

整機尺寸mm)

500L*380W*520H

550L*420W*520H

600L*480W*520H

重量

30kg

35kg

50kg

自適應減震系統

自適應減震底座設計,可有效過濾環境中的震動源干擾

卡盤大小

4英寸,360度轉動,可微調

6英寸,360度轉動,可微調

8英寸,360度轉動,可微調

卡盤XY軸行程

4英寸*4英寸,精度10um

6英寸*6英寸,精度10um

6英寸*6英寸,精度10um

卡盤Z軸行程

快速升降5mm,微調升降行程6mm,精度丄微米(選件)

卡盤材質

不銹鋼鍍金,具備小的接觸電阻

卡盤吸附方式

真空吸附,可選擇環形吸附或者多孔吸附(適用于薄片)

背電極測試功能

卡盤鍍金,電學懸空,帶24mm香蕉頭插口,具備背電極功能

其它功能

帶標準接地保護,可升級

針座平臺

材質

U型平臺,Q235鍍療,帶接地端子

大小

多可放置4個探針座

多可放置6個探針座

多可放置8個探針座

7F系統

顯微鏡類型

體式顯微鏡/視頻顯微鏡+CCD成像系統

倍率范圍

16X~200X/40X~280X

調焦范圍

50.8mm

顯微鏡移動

顯微鏡可繞立柱360度旋轉,帶2英寸顯微鏡調焦機構,帶顯示器支架

CCD成像系統

2k或者4K相機,幀率60fps,帶拍照/錄像/測量功能等功能

探針座

種類

絲桿型/微分頭型/經濟型探針座

X-Y-Z行程

12.5mm-12.5mm-12.5mm

機械精度

0.5um/0.7um/2um

夾具

漏電精度

同軸夾具10pA/三軸夾具lOOfA

接口形式

同軸/三軸/SMA/香蕉頭/鱷魚夾/裸線等接口

其它

選件

屏蔽箱/防震桌/射頻系統/同軸/三軸加熱卡盤/顯微鏡萬向支架等

電力需求

220V/50HZ


 
 
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