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非標探針臺

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  • 更新日期:2023-12-19 11:23
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詳細介紹

非標探針臺

I (1)微型探針臺

整機外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg;

雙探針座平臺鍍鏢設計,提高了針座平臺和針座之間的吸附力;

ChJKZC-UCk XY微分頭設計,行程25mm*25mm,精度2um;

ChJKZC-UCk大小:2英寸,中心吸附孔和多圈吸附環固定樣品,均控制;

卡盤電學懸空,帶4mm香蕉頭插口,可以作為背電極使用;

臺體底板帶高性能防震海綿,可一定程度減小外界震動對測試的干擾;

整機人體工程學設計,操作簡單,使用便捷。

| (2)倒裝手動測試夾具

可給樣品加載DC或者RF信號;

樣品可在0~180度任意角度內進行旋轉并固定;

具備微調功能,精度0.1度;

玻璃樣品載臺,高透光性;

可無磁化設計,在光學,電磁等環境中運用較為廣。

| (3)光電流測試顯微鏡

可在原有光路基礎上可以導入另一路光源,用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下電學性能;

顯微鏡設計為雙光路或3光路,其中一路為導入光通路,另一到兩路為成像光路導入光為平行的激光或其它線性光源 ,波長范圍200nm~20000nm,中間可加入多個波片過濾,起偏及偏振角度無級360度調節。光斑輻照直徑有650nm紅光 指示。所有模塊均可拉出設計,對導入光性質無影響;

導入光光路可選擇光時間開關,控制導入光的輻照時間,精度1ms,范圍2ms~oo,在控制界面上可對各種參數進 行詳細設置,成像光路為同軸照明金相成像,其中一路為1倍成像,可選擇第2路成像,為物鏡的0.25-10倍率,通常在高 低溫測試系統里會用到,同一個物鏡不切換,得到兩個不同視野的成像。

(4)TEC制冷卡盤

釆用TEC制冷,無需液氮,使用方便;

可給樣品提供不同溫度環境;

樣品臺大小可選,防干擾設計,具備良好的接地性能;

溫度范圍:負45°C~150°C,溫度分辨率:0.1°C,

溫度穩定性:土 0.3°C;

樣品臺微調升降,行程O-lOmm,精度10umo

 (5)磁場探針臺(無磁設計)

在探針臺的基礎上,可加載三維磁場,多維磁場,磁場強度,精度和間隙均可調整;

高剛性結構,所有零配件均采用無磁化材料;

可加載高低溫,可同時進行DC和RF測試;

可以旋轉,可客制化。

|⑹110g以上高頻測試探針臺

可配合市場主流擴頻模塊進行超高頻測試;

大行程探針座,X-Y-Z-Theta四軸控制;

顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內移動,擴大了顯微鏡視場;

兼容直流與高頻信號;

可以定制,可升級性強;

大可以測試12英寸樣品,探針臺chJKZC-UCk具備升降功能,便于樣品和 探針的快速分離。


(7)自動測試系統

自動探針測試系統,可以與半參,網分聯動;

電動二維平臺,可手動和電動操作;

ChJKZC-UCk XY軸運動行程100*100mm,復定位精度±lum

X-Y軸驅動:電機+絲桿+光柵尺;

探針/光纖探針XYZ軸電動模塊30*30*30mm,復定位精度W ±lum;

X-Y-Z軸驅動:電機+絲桿+光柵尺。

| (8)可升降平臺

產品型號:T-station

產品參數:

尺寸和重量定制;

單個探針座平臺多可同時放置3個探針座;

探針座平臺表面鍍鏢,增大與探針座之間的吸附力;

隱匿螺紋固定于標準蜂窩板,美觀,并且方便拆卸;

平臺可升降,升降高度和精度可定制;

可配合光電流顯微鏡使用。

| (9)納米探針座

產品型號:JKZC-DCH-20nm

產品參數:

X軸分辨率:20nm,行程30um (旋鈕控制盒);

YZ軸分辨率:10um,行程+-6.5mm;

釆用壓電陶瓷設計,可以固定步距撥動樣品或者納米線。

(10)毫米級手持式探針夾具

I產品型號:JKZC-DCH

I產品參數

整體尺寸:20*20*180mm;

萬向調節旋鈕,方向可調,松緊可調;

磁吸底座,直徑20mm;

兼容彈簧針和晶圓針;

Cable接頭可定制三軸,同軸或者其它。

(11) FA失效分析探針臺

|產品型號:FA

I產品參數

探針臺系統可以選用:4~12英寸JKZC-DN系列探針臺。

激光系統可以選用美國ESI三波段激光器或者法國 quantel激光器

美國ESI (NEWWAVE)激光器參數

鐳射波長1064和532nm和355nm

輸出功率2.2mJ/pulse

擊打頻率lHz~50Hz

可加工的材質:Copper/Gold/Poly Silicon/Alu minum/Silicon Dixoide等

小加工尺寸1微米(使用100X物鏡)

大加工尺寸40微米(使用50X物鏡)

 
 
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