覆層測厚儀 美國 型號：NKCV/HS4100 貨號：ZH2402 產 概 述：

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覆層測厚儀 美國 型號：NKCV/HS4100

貨號：ZH2402

產 概 述：   本儀器是一種便攜式測量儀,可以快速、、地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。配置不同的探頭，適用于不同場合。是材料保護和生產控制備儀器。 適用范圍： 　　   NKVV/HS系列覆層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 主要功能： 可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進行測量； 三種校準方法： 一點校準、二點校準、基本校準； 顯示分辨率： 0.1μm（測量范圍小于100μm） 1μm （測量范圍大于100μm） 有兩種工作方式：直接方式和成組方式 有兩種測量方式：連續測量和單次測量 有兩種關機方式：手動關機和自動關機 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警，并可用直方圖對一批測量值進行分析； 有刪除功能：對粗大誤差及錯誤設置可進行刪除處理； 打印功能：可打印測量測量值、統計值、限界、直方圖 測量范圍： （1）F400探頭、N400探頭：0—400μm （2）F1探頭、F1/90探頭、N1探頭：0—1250μm （3）F10探頭：0—10000μm （4）CN02探頭：10-200μm（根據測量要求選用不同探頭） 測量精度： 不同探頭精度要求不同 （1）F400探頭、N400探頭：一點校準：（2%+0.７）；二點校準：（1%+0.７） （2）F1探頭、F1/90探頭、N1探頭、CN02探頭：一點校準：（2%+1）；二點校準：（1%+1） （3）F10探頭：一點校準：（2%+10）；二點校準：（1%+10） 使用溫度： 0～40℃ 外型尺寸： 150×80×30m 重 量： 250g  功能 NKCV/HS2100F NKCV/HS2100N NKCV/HS3100 NKCV/HS4100 測量原理 磁性 渦流 磁性/渦流 磁性/渦流 測量范圍 標準配置探頭（F1/N1)：1～1250μm 測量精度 ±（2%H+1）μm（零點校準） ±[(1～3)%H+1] μm（二點校準） 統計量 平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（）、標準偏差（S.DEV) 存貯和統計 15個測量值 測量精度 ±（2%H+1）μm（零點校準） ±[(1～3)%H+1] μm（二點校準） 零點校準 √ √ √ √ 二點校準 √ √ √ √ 刪除功能 √ √ √ √ 自動關機 √ √ √ √ 蜂鳴聲提示 √ √ √ √ 測量方式 √ √ √ √ 欠壓指示 √ √ √ √ 錯誤提示 √ √ √ √ 標準配置 主機 F1探頭 基體 校準片 說明書 包裝箱 主機 N1探頭 基體 校準片 說明書 包裝箱 主機 F1(N1)探頭 基體 校準片 說明書 包裝箱 主機 打印機 F1(N1)探頭 基體 校準片 說明書 包裝箱 選配件 F1、F400、F10測頭 N1、N400測頭 通訊軟件 F1、F400、F10測頭 N1、N400測頭 配置： 主機，F1或N1探頭， 基體與試片1套 軟件光盤1張，通訊電纜1根 www.centrwin.com www.ghitest.com 品簡介:

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