產(chǎn)品簡介
四探針電阻率分析儀型號：TDW-6TDW-6型半導體電阻率測試儀是專用于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設
公司簡介
北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司
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產(chǎn)品說明
四探針電阻率分析儀 型號： TDW-6
TDW-6型半導體電阻率測試儀是專用于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是生產(chǎn)廠家硅料分選測試的理想工具。
1、 主要技術(shù)指標:
電源：220V交流
可測晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：電流量程為0.01～1mA連續(xù)可調(diào)，誤差≦±0.5%。
數(shù)字電壓表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV
電阻率顯示：三位半數(shù)字顯示：小數(shù)點、性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米
輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
zui大電阻測量誤差（按JJG508-87進行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數(shù)±2個字。
測量環(huán)境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%
2、操作程序：
1、先連好電源，打開后面板電源開關(guān)，電源指示燈亮，表示待機完畢。
2、校準設備：根據(jù)國標電流修正系數(shù)表通過厚度調(diào)節(jié)電流來校準儀器，或通過：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標準樣塊校準電阻率測試儀
3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可，
4校驗：在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準一次設備，
3、 針組件;維護及注意事項:
1、一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭 的 清理清潔工作
2、維護后的安裝及維護過程中,必須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列。
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