產(chǎn)品簡(jiǎn)介
A1型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片 磁粉探傷試片試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡(jiǎn)便。對(duì)各類零件所有方向的磁場(chǎng)，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)。
產(chǎn)品說明
A1型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡(jiǎn)便。對(duì)各類零件所有方向的磁場(chǎng)，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格：
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號(hào)中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。
A1型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片 磁粉探傷試片
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
本頁產(chǎn)品地址：http://lgsztm.com/sell/show-5114595.html
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