電熱絲、發(fā)熱盤、熱敏電阻、電容、集成電路、電路板、電子連接器等的脫焊、空焊、連錫、氣泡，工件內部的圖形結構和缺陷,等測試。產(chǎn)品的內部結構是否有損壞、是電子產(chǎn)品無損測試的專用設備。還可用于鑄件裂紋，裂縫、氣孔等無損測試。

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歡迎寄產(chǎn)品樣品測試，測試樣品免費。或者來我司觀看產(chǎn)品測試效果。

詳情咨詢電話：13761728206陳先生。微信同上。

QQ：382504549

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智能芯片測試設備

 電子元器件測試設備：

 儀器釆用微焦數(shù)字成像,應用于: 電子產(chǎn)品、電子元器件、半導體元器件、BGA、IC芯片、CPU、IC芯片.封裝元件、

電熱絲、發(fā)熱盤、熱敏電阻、電容、集成電路、電路板、電子連接器等的脫焊、空焊、連錫、氣泡，工件內部的圖形結構和缺陷,等測試。產(chǎn)品的內部結構是否有損壞、是電子產(chǎn)品無損測試的專用設備。還可用于鑄件裂紋，裂縫、氣孔等無損測試。

技術參數(shù):

1、數(shù)字成像系統(tǒng):為工業(yè)非晶硅DR平板探測器，

2、像素間距:125微米，

3、AD轉換16比特。

4、 視場：（100mm/160mm/350mm供用戶選擇 ）

5、分辨率：125um；(數(shù)字化高清圖像)          

6、間距：50-500mm；        

7、管電壓：50-80kv；         

8、管靶流：0.2-0.5mA；

9、電源：220VAC

10、主機重量：250kg；

11 、軟件功能，圖像軟件、正反選、縮放、旋轉等多功能調節(jié).

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