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HTIM-300型高低溫材料電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HTIM-3高低溫材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等測(cè)試樣品進(jìn)行測(cè)試，可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅（si）、鍺
價(jià)格：面議
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HTRT-1600型超高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HTRT-1600本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片，上位機(jī)智能管理分析軟件、真空多段溫控加熱設(shè)備組成的金屬電阻率智能存儲(chǔ)分析儀器。測(cè)試金屬樣品根據(jù)測(cè)試工藝要求任意設(shè)定加熱、降溫曲線，通過(guò)過(guò)程中電阻率的精密測(cè)量，完成對(duì)金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化如相變、碳化物、固溶度等特性的分析。
價(jià)格：面議
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SPJD-1200型 四通道同屏對(duì)比測(cè)試高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SPJD-1200型型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量，并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
價(jià)格：面議
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GWIM-1000型高溫體積表面電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：GWIM-1000型高溫體積表面電阻率測(cè)試儀是一款滿足GB／T31838.2-2019固體絕緣材料介電和電阻特性第2部分：電阻特性(DC方法)體積電阻和體積電阻率；等同IEC62631-3-1-2016固體絕緣材料的介電和電阻性能-第3-1部分:電阻特性的確定（直流方法）-體積電阻和體積電阻率-一般方法；
價(jià)格：面議
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TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x是一款專門針對(duì)于任意大小形狀及尺寸的金屬材料電阻測(cè)試高溫系統(tǒng)，常見(jiàn)的不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等金屬材料均可測(cè)試。設(shè)備采用高精度的儀表，電阻精度量精確到 1uΩ，配備高精度標(biāo)準(zhǔn)電阻，數(shù)據(jù)溯源美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院數(shù)據(jù)。是目前研究金屬材料高溫電阻變化的重要設(shè)備。
價(jià)格：面議
