臻邁電子 日立鍍層分析儀X-Strata920
我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析，可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。

優(yōu)化的微聚焦硬件和直觀的用戶界面，簡化了常規(guī)分析，提高了產(chǎn)出，使用“一鍵式”操作可確保簡單的培訓(xùn)就能同專業(yè)技術(shù)人員得到一樣的結(jié)果。用戶能容易地理解X熒光光譜，獲得定制的校準和探索未知的材料。
 

鐳射用于自動定位X射線光管/檢測器與被測樣品到較佳測試距離。

“一鍵操作”將測試頭移動到zui佳位置，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上）。

自動而簡單的操作提高儀器測試的再現(xiàn)性，并將人為測量誤差降到zui低。

注：較佳測試距離為12.7mm (0.5”)，由X射線測試頭自動調(diào)節(jié)高度（Z軸）。

開槽式樣品倉結(jié)合電機驅(qū)動樣品臺，可測量各種尺寸樣品，包括小元件和大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板。所有樣品可以很方便地用程控XY平臺放置并快速定位到樣品上的各個待測點進行分析。

經(jīng)過簡單易學(xué)的指導(dǎo)，用戶即可通過編程完成自動測量，實現(xiàn)zui大的樣品測試量和無人操作的測試。

使用鼠標控制，可以方便地放置被測樣品/零件，并且定位到測試點。

樣品放置方便

Z軸自動控制（Z向行程：43mm/1.7”）

樣品定位方便
樣品臺尺寸：560mm (22") 深 x 610mm (24") 寬

XY向行程：178mm (7")  x 178mm (7")

zui大樣品高度33mm (1.3”)。

臻邁電子 日立鍍層分析儀X-Strata920