產品簡介
快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的 相位差、雙折射和內部應力應變分布，雙折射儀，應力雙折射儀，大相位差雙折射應力測試儀
公司簡介
歐屹科技，是以激光、光電儀器、電子封裝設備為核心業務的專業代理經銷商和服務商，歐屹科技以多年的行業經驗，
為客戶引進國內外先進的激光器、光電器件、光電儀器、光電系統、電子封裝設備等高精尖儀器設備
其中高功率半導體激光器，微光學透鏡，劃片機，
應力雙折射測試儀尤其受到客戶的贊許。
另外，歐屹科技以專業的技術支持和售后服務；豐富國際貿易經驗為廣大用戶提供廣泛的支持，
我們正盡最大努力把歐屹科技建設成為值得您信賴的公司
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產品說明
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術，并由此開發出的測量儀器。
主要產品分四部分：
- n 光子晶體光學元件；
- 雙折射和相位差評價系統；
- 膜厚測試儀；
- 偏振成像相機。
『相位差』『雙折射』『內部應力』測量裝置 WPA/PA系列
- 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內的
- 相位差、雙折射和內部應力應變分布
PA/WPA系統特點：
- 操作簡單/快速測定：獨特的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
- 2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。
- 大相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。
偏光圖像傳感器的結構和測試原理
雙折射測量系統 WPA-100，WPA-100-L
大尺寸和大相位差樣品的圖樣測試。
產品特點：
大的測試范圍
曲線圖功能
CSV格式輸出
快軸慢軸可選
縮放功能（選配）
l 標準系統可測量高達數千nm的高相位差。
l 適用于測試光學薄膜和透明塑料件的相位差分布。
本頁產品地址：http://lgsztm.com/sell/show-6960314.html
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