ZEM-3熱電性能分析系統技術特點： · 溫度檢測采用R型熱電偶· 標準搭載歐姆接觸自我診斷程序并輸出V/I圖表· 基于日本工業標準JIS (熱電能JIS 電阻率JIS R 1650-2)· 試樣支架采用獨特的接觸式平衡機構，保證測量的高重現性· 采用數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差

北京精科智創科技發展有限公司是一家主要是從事精密儀器設備，我們同中國科學院，北京科技大學，清華大學，上海交通大學，北京航空航天大學等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設備，計量檢測設備，科學材料研究設備，3D打印及空間技術的研發和銷售，我們將同國內的科研機構和高等院校進行更加廣泛的合作，服務于國內和國外廣大客戶，我們將提供優質產品，優質服務，共同開拓進取。

我們為你提供材料表征測量的一系列產品：

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一表征：壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀

2、ZJ-4型d33測量儀

3、ZJ-5型積層壓電測試儀

4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀

5、ZJ-7型高溫壓電測試儀

★壓電極化裝置

1、PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-4片）

2、PZT-JH10/8壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）

3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置（20KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高壓真空，空氣極化裝置（20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣）

★ 壓電制樣裝置

1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30電動型壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 鐵電材料測量系統及電滯回線測量系統

1、ZT-4C型綜合鐵電測量系統

2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數測試儀

3、JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統

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第三表征 熱電材料分析測量系統及塞貝克系數測試儀

1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統

2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統

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第四表征 介電材料測試系統

1、 常溫介電測量系統，常溫介電材料測試儀

2、 高溫介電測量系統，高溫介電材料測試裝置

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第四表征磁性材料測試系統

ZEM-3熱電性能分析系統

 

技術特點：

 

· 溫度檢測采用R型熱電偶

· 標準搭載歐姆接觸自我診斷程序并輸出V/I圖表

· 基于日本工業標準JIS (熱電能JIS 電阻率JIS R 1650-2)

· 試樣支架采用獨特的接觸式平衡機構，保證測量的高重現性

· 采用數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差

 

 

	ZEM-L	ZEM-LS	ZEM-3M8	ZEM-3M10
測量溫度	-80℃-100℃	-100℃-500℃	RT-800℃	RT-1000℃
控溫精度	±0.5K
測量原理	塞貝克系數：靜態直流電；           電阻系數：四端法
測量范圍	塞貝克系數：0.5μV/K_25V/K；       電阻系數：0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率	塞貝克系數：10nV/K；               電阻系數： 10nOhm
測量精度	塞貝克系數：＜±７％；         電阻系數：＜±10％
樣品尺寸	直徑或正方形：2 to 4 mm2   ×6 to 23mm長
熱電偶導距	4,6,8 mm （或定制）
電   流	0 to 160 mA
氣   氛	減壓He

 

 

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