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企業(yè)認(rèn)證:
價(jià)格:電議
所在地:北京
型號(hào):Speed-Up Wafer-level Magnetic Test
更新時(shí)間:2019-09-30
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公司地址:北京普瑞億科科技有限公司
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孫秀娥(先生)
北京普瑞億科科技有限公司是國(guó)內(nèi)盛名的儀器設(shè)備、系統(tǒng)方案和咨詢服務(wù)提供商,成立于2007年,為北京市高新技術(shù)企業(yè),通過ISO90001國(guó)際質(zhì)量管理體系認(rèn)證。主要從事生態(tài)環(huán)境、植物生理、土壤地質(zhì)、農(nóng)林水文、民航氣象、環(huán)境遙感等領(lǐng)域相關(guān)儀器設(shè)備的自主研發(fā)和國(guó)外知名儀器設(shè)備在中國(guó)大陸的推廣銷售和技術(shù)服務(wù)工作。
公司堅(jiān)定不移地推進(jìn)科技創(chuàng)新和自主研發(fā),組建了具有豐富儀器研發(fā)經(jīng)驗(yàn)和精湛應(yīng)用知識(shí)的高素質(zhì)研發(fā)團(tuán)隊(duì),攜手中國(guó)科學(xué)院等各方合作伙伴先后獲得北京市科委、中國(guó)科學(xué)院、國(guó)家科技部等單位的重大儀器設(shè)備研發(fā)項(xiàng)目支持并取得矚目成果,開發(fā)出一系列具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的專li產(chǎn)品。相關(guān)產(chǎn)品包含不限于RhizoScan原位根系掃描儀、IPS-1000同位素光合儀、PRI-3000水真空抽提系統(tǒng)、PRI-3500 14C樣品制備系統(tǒng)、PRI-8500地上地下廓線分析系統(tǒng)、PRI-8600通道土壤呼吸和群落光合控制系統(tǒng)、PRI-8650實(shí)驗(yàn)室土壤呼吸測(cè)量系統(tǒng)、PRI-8700在線通流土壤呼吸測(cè)量系統(tǒng)、PRI-8800 全自動(dòng)變溫土壤培養(yǎng)前處理系統(tǒng)、METLOG科研級(jí)氣象站等,相關(guān)產(chǎn)品已經(jīng)在中國(guó)生態(tài)系統(tǒng)研究網(wǎng)絡(luò)CERN諸多單位安裝運(yùn)行,并取得用戶的一致好評(píng)。
公司重視引進(jìn)國(guó)際先進(jìn)的儀器設(shè)備,通過10余年的不懈努力,先后獲得美國(guó)Picarro、意大利NCT、英國(guó)CSS、美國(guó)AGT、法國(guó)APIX、美國(guó)Hydroinnova、法國(guó)Hprobe、美國(guó)UIC、美國(guó)ASI、德國(guó)Tec5、美國(guó)MicaSense、波蘭E-TEST等世界知名儀器公司在中國(guó)的代理權(quán),并設(shè)立了相關(guān)技術(shù)服務(wù)中心;同時(shí)與美國(guó)Thermo Fisher、PerkinElmer達(dá)成長(zhǎng)期戰(zhàn)略發(fā)展合作協(xié)議,旨在專業(yè)范圍內(nèi),為客戶提供科學(xué)有效的系統(tǒng)解決方案。
公司非常注重產(chǎn)品應(yīng)用培訓(xùn)和售前售后服務(wù)支持,投資近千萬(wàn)元設(shè)置開放實(shí)驗(yàn)室并通過CMA認(rèn)證,進(jìn)行樣品分析檢測(cè)及測(cè)試方法探索、提供售前售后技術(shù)支持、參與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制定等;設(shè)立了專業(yè)的技術(shù)支持服務(wù)團(tuán)隊(duì),堅(jiān)守“科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)、快速高效”的服務(wù)理念,為客戶提供7×24小時(shí)快速響應(yīng)和全方位技術(shù)支持,協(xié)助客戶制定科研工作中所需的高級(jí)設(shè)備配置、探討科研方案設(shè)計(jì)、分析科研數(shù)據(jù)及檢驗(yàn)驗(yàn)證儀器設(shè)備等工作。穩(wěn)定的產(chǎn)品質(zhì)量與高效的服務(wù)支持贏得諸多客戶的信賴,真正做到了“Science to Solutions”。
立足現(xiàn)在、著眼未來(lái),公司始終奉行“誠(chéng)信服務(wù)、質(zhì)量?jī)?yōu)先、真誠(chéng)合作、共同發(fā)展”的企業(yè)宗旨,秉承服務(wù)程序更簡(jiǎn)單、更靈活、更機(jī)動(dòng)、響應(yīng)速度更快的經(jīng)營(yíng)理念,積極為客戶提供更安全、更優(yōu)質(zhì)、更可靠、更高效、更高性價(jià)比的解決方案和先進(jìn)產(chǎn)品,讓更多的用戶獲益于世界先進(jìn)儀器設(shè)備帶來(lái)的方便和快捷。
地址:北京市海淀區(qū)瀚河園路自在香山159號(hào)樓2單元202室 郵編:100093
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Speed-Up Wafer-level Magnetic Test
Hprobe 晶圓級(jí)測(cè)試儀
主要特點(diǎn)
§ 大范圍面內(nèi)和垂直場(chǎng)
§ 磁場(chǎng)三維可控
§ 旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)
§ 嵌入式傳感器校準(zhǔn) ( Hall 傳感器 )
§ 自動(dòng)化測(cè)試程序
§ MRAM 參數(shù)提取軟件
§ 100mm~300mm 晶圓可測(cè)
§ 兼容標(biāo)準(zhǔn)探針卡
Hprobe 測(cè)試儀是磁場(chǎng)下晶圓級(jí)表征及測(cè)試的工具。它采用的3D磁場(chǎng)發(fā)生器和的、可定制的、商業(yè)化硬件,為傳感器到MRAM等磁性器件,提供完整的測(cè)試解決方案,該工具符合晶圓自動(dòng)化 測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)說明
磁性 3D 發(fā)生器
Hprobe 測(cè)試儀采用的3D磁場(chǎng)發(fā)生器,其中每個(gè)磁場(chǎng)的空間軸都是驅(qū)動(dòng)。通過控制 3 個(gè)軸的磁場(chǎng),用戶可實(shí)現(xiàn)任意方向磁場(chǎng),同時(shí) 也可產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)。 發(fā)生器提供所有的控制儀器、控制程序和校準(zhǔn)工具。
3D磁性發(fā)生器位于探測(cè)器上,在晶圓上生成局部磁場(chǎng),探針位于磁場(chǎng)發(fā)生器與晶圓之間。發(fā) 生器和探測(cè)器卡盤之間的標(biāo)準(zhǔn)z軸間距為 1mm,500μm 到 5mm 內(nèi)可調(diào)。
校準(zhǔn)
測(cè)試儀并沒有為所有可能的磁性配置提供詳盡 的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)表。但用戶能夠自定義額外定制磁 場(chǎng)類型,校準(zhǔn)相應(yīng)的線圈電流以產(chǎn)生需要的場(chǎng) 類型。
校準(zhǔn)包括:
§ 將理論磁場(chǎng)應(yīng)用于待測(cè)器件
§ 沿三軸測(cè)量感興趣區(qū)域內(nèi)的磁場(chǎng)測(cè)量數(shù)據(jù)用于補(bǔ)償和調(diào)整在晶圓測(cè)試期間施加
的磁場(chǎng)。
校準(zhǔn)測(cè)量用嵌入在探測(cè)器內(nèi)的 3D 霍爾傳感器 完成。
3D 校準(zhǔn)傳感器特征
§ 角精度高
§ 靈敏度5V /特斯拉
§ 測(cè)量范圍2特斯拉
§ 差分輸出
§ 溫度靈敏度:<100 ppm/°
§ 在探頭上集成溫度傳感器用于溫度補(bǔ)償
晶圓探測(cè)器
Hprobe 測(cè)試儀是由工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的晶圓探測(cè)器構(gòu) 成,囊括 100mm 手動(dòng)探測(cè)器到 300mm 全自 動(dòng),適于生產(chǎn)的探測(cè)器。探測(cè)器通常包括:
§ 溫控卡盤(熱/冷)
§ 探針卡定位可視化操作
§ 晶圓裝填器
§ 單一晶圓承載器
§ 嵌入式校準(zhǔn)傳感器
§ 破碎晶圓承載器(可選)
其他特定的 HW/SW 探針選項(xiàng)可根據(jù)客戶要求 定制。
探測(cè)器控制是通過我們的測(cè)試程序驅(qū)動(dòng)的,針 對(duì)探測(cè)器功能提供完全的用戶訪問權(quán)限。
儀器
Hprobe 測(cè)試儀提供全套儀器來(lái)驅(qū)動(dòng)和測(cè)量大多數(shù)磁性器件,比如 MRAM(STT,SOT,電壓控制),
傳感器(AMR,GMR,TMR)和磁性 MEMS。
預(yù)定義的儀器包括批量生產(chǎn)的源表(SMU),數(shù)字萬(wàn)用表(DMM),任意波形發(fā)生器(AWG)和脈 沖發(fā)生器。其他儀器可根據(jù)要求提供,并且可以輕松地集成在該工具的硬件和軟件中。源測(cè)量單元 (S M U )
§ zui小測(cè)量范圍 20mV
§ zui小量程 1nA
§ > 3,000 讀數(shù)/秒
§ 白噪聲 2mV rms
數(shù)字萬(wàn)用表( DM M )
§ 18 位,zui小測(cè)量范圍 100mV
§ 分辨率 10nV
§ zui小記錄時(shí)間 1μs
任意波形發(fā)生器( AW G )
§ 雙通道,帶寬 40MHz
§ 正弦波,方波與脈沖高達(dá) 30MHz
§ 斜率&三角波達(dá) 200kHz
探針
§ 每個(gè)通道的任意波形 < 1Msample
§ zui大采樣率 250Msample/秒
脈沖發(fā)生器
§ zui小脈沖寬度 300 ps
§ 脈寬精度 10 ps
§ 上升/下降時(shí)間 < 70 ps
(20%-80%)
§ 輸出幅度 10 mVpp~5 Vpp
§ zui大重復(fù)率 500 MHz/每通 道
§ 觸發(fā)到輸出晃動(dòng) < 35ps
RMS
Hprobe測(cè)試儀易拓展,用戶可使用工業(yè)用探針,也可以使用裝有DC和RF探針的顯微操縱器。的限
制是磁場(chǎng)發(fā)生器和晶片之間的間隔在高磁場(chǎng)下必須保持盡可能的小(<1mm)。
測(cè)試程序
測(cè)試程序包括用于滿足用戶需求的所有功能,從材料表征到產(chǎn)
品開發(fā),到生產(chǎn)轉(zhuǎn)化。 它以三種模式運(yùn)行:
§ 校準(zhǔn) - 設(shè)置磁場(chǎng)的配置和創(chuàng)建用戶定義模式 (見下圖)。
User Interface
§ 工程 - 運(yùn)行預(yù)先實(shí)施的測(cè)試模式或創(chuàng)建并運(yùn)行完整的自定義特性描述和測(cè)試程序。
§ 生產(chǎn) - 從工程模式中利用優(yōu)化時(shí)間來(lái)設(shè)置測(cè)試程序。
預(yù)先實(shí)施的測(cè)試模式包括(有或者無(wú)磁場(chǎng)):
§ 開放/短期測(cè)試
§ 交流/直流 電流-電壓,R-V 測(cè)試
§ 交流/直流擊穿電壓測(cè)試
§ 讀/寫脈沖測(cè)試
§ 隧道磁阻
§ 誤碼率
§ 器件循環(huán)測(cè)試
§ (I,V,H)相圖
測(cè)試程序示例
STT-MRAM 應(yīng)用程序
TMR 傳感器的應(yīng)用
注釋:
1 、 ST T - MR A M : “ 存器 ”
自旋轉(zhuǎn)移矩—磁隨機(jī)存儲(chǔ)器器件自旋轉(zhuǎn)移矩—磁隨機(jī)存儲(chǔ)器器件(Spin Transfer Torque - Magnetic RandomAccess Memory
:STT-MRAM)就是一種接近“存儲(chǔ)器”要求的具應(yīng)用潛力的下一代存儲(chǔ)器解決方案。
2 、磁定向 ( F i e l d O ri e n t a t i o n )
3、磁通密度B,單位面積的磁通,單位是 T[特斯拉],磁通單位是 Wb[韋伯],mT就是毫特斯拉;1T=1000mT=1Wb/m^2
免責(zé)聲明:以上所展示的[Speed-Up Wafer-level Magnetic Test Hprobe 晶圓級(jí)測(cè)試儀]信息由會(huì)員[北京普瑞億科科技有限公司]自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。