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smart-1 I-V曲線跟蹤儀曲線兩側開短路測試

儀準科技（北京）有限公司

會員指數：

企業認證：

價格：電議

所在地：北京

型號：smart-1

更新時間：2023-11-10

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公司地址：北京市中關村軟件園

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產品簡介

I-V曲線跟蹤儀曲線兩側開短路測試失效分析電流電壓測試1.低的漏電流測量(例如光二管或太陽能電池的暗電流測量)；2.CMOS,雙性組件,BiCMOS IC 的半導體參數測量；3.開/短路試驗。

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

專業從事電子產品分析測試設備研發、生產、銷售，以及國外**設備代理,探針臺probe 開封機decap 微光顯微鏡emmi 紅外顯微鏡 iv自動曲線量測儀失效分析可靠性測試FIB,切割研磨機rie，電子顯微鏡sem等

展開

I-V曲線跟蹤儀 I-V曲線跟蹤儀曲線兩側開短路測試失效分析電流電壓測試

主要用途

驗證及量測半導體電子組件之電性參數及特性,比如電壓-電流、電容-電壓特性曲線,

性能參數

a)512 channel的測試通道；

b)Force范圍：電壓：0~7V ；電流：0~500mA

c)量測范圍：電壓：0~10V ；電流：0~500mA

d)測量精度：電壓：1mV ；電流：10nA；

應用范圍

1.低的漏電流測量(例如光二管或太陽能電池的暗電流測量)；

2.CMOS,雙性組件,BiCMOS IC 的半導體參數測量；

3.開/短路試驗。

本頁產品地址：http://lgsztm.com/sell/show-7904028.html

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