JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統，通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯動使用，可以進行大范圍的觀察和分析。EDS通過檢測被電子束激發出的樣品的特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進行微區的點分析、線分析及面分析。

北京培科創新技術有限公司是一家專注于科學研究及工業應用的儀器渠道商和系統解決方案提供商，我們為高校、科研院所、企業等各類客戶提供全面的儀器設備解決方案。公司成立于2012年，總部設在北京，在上海、深圳、沈陽等地設有多個辦事處。 培科創新，與多家世界知名儀器制造商建立了良好的戰略合作關系，不斷優化提升的公司自身營運和服務質量，致力于向用戶提供的產品、zui優化的解決方案和高品質的專業服務，承擔著科技產業助推器的責任，服務并推動科學研究和科技產業的發展。 培科創新，秉承高度負責和誠信的原則展開業務，努力營造員工和客戶之間互相尊重、坦誠溝通、高效互動的健康環境。我們了解客戶的實際需求，并提供合理優質的解決方案，并盡力滿足客戶的近期和長期需求。培科在客戶的關注和員工們的努力中不斷進步，擁有遍布全國的營銷渠道和服務網絡、職業化的技術服務團隊。

JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統，通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯動使用，可以進行大范圍的觀察和分析。EDS通過檢測被電子束激發出的樣品的特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進行微區的點分析、線分析及面分析。

• JSM-6510/LA, JSM-6610A/LA 系列

• 可以在SEM圖像上分析位置，開始EDS分析。

• VID

• 將采集的X射線譜圖和Visual PeakID（VID）合成的譜圖進行比較，定性結果可以通過視覺、數值判斷。

• Play Back

• Play Back (回放) 功能
  用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖，不僅保存了每一幀中各個像素點的譜圖，還對每一幀中電子束形成的圖像進行了存儲。利用Play back功能，可以進行多角度的分析如觀測譜圖等隨時間的變化等。測試后數據能夠回放，可以觀察到樣品按時間順序發生的變化，這是至今為止無法實現的。此外，利用Play Back功能還可以截取任意的畫面。

• Smile Station? 2

• Smile Station?2功能通過在多個視野上自動進行分析，生成SEM和元素面分布圖的無縫蒙太奇圖像，也可以在取得的視野上進行連續的元素面分布和點分析等。（專利號4175597）

• Dry SD 檢測器

• Dry SD 檢測器（SDD檢測器）與傳統的EDS檢測器不同，不需要液氮制冷。使用快速簡單，同時實現了高分辨率和高計數率處理。

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