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長禾 HTGB測試、HTRB測試、HT3GB檢測實驗室

西安長禾半導體技術有限公司
會員指數: 企業認證:

價格:電議

所在地:陜西 西安市

型號:長禾

更新時間:2024-05-08

瀏覽次數:1578

公司地址:西安市高新區錦業路69號創新商務公寓1號樓10310室

蒲經理(先生) 經理 

產品簡介

HTGB測試、HTRB測試、HT3GB檢測實驗室 功率器件要測哪些參數?IGBT要測那些參數?功率器件的靜態參數測試/功率器件的動態參數測試,歡迎聯系西安長禾半導體,我們是做深圳IGBT測試、深圳SiC測試、深圳間歇壽命測試、深圳老煉測試、HTGB測試、HTRB測試、HT3GB測試、深圳熱阻測試、RTH測試、靜態/動態參數測試、深圳DPA測

公司簡介

西安長禾半導體技術有限公司功率器件測試實驗室(簡稱長禾實驗室)位于西安市高新技術經濟開發區,是一家專業從事功率半導體器件測試服務的高新技術企業,是國家CNAS 認可實驗室,屬于國家大功率器件測試服務中心。 長禾實驗室擁有尖端的系統設備、專業的技術團隊和完善的服務體系。實驗室現有的測試儀器設備100余臺套,專業測試人員20余名。我們緊跟國內標準,以客戶需求為導向,不斷創新服務項目和檢測技術,借助便利的服務網絡,為合作伙伴提供優質高效的技術服務。 長禾實驗室專注于功率半導體器件的動、靜態參數檢測、可靠性檢測、失效分析、溫循試驗、熱阻測試等領域的技術服務。業務范圍主要涉及國內軌道交通、風力發電、科研單位、軍工院所、工業控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽車等行業。也是第三代半導體(寬禁帶半導體)應用解決方案服務商。 長禾實驗室秉承創新務實的經營理念,為客戶提供優質的服務、完善的解決方案及全方位的技術支持;同時注重與行業企業、高校和科研院所的合作與交流,測試技術與服務水平不斷提升。 誠信立世,感恩回饋,歡迎選擇長禾實驗室做您忠誠的合作伙伴,共謀發展大計!
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產品說明

隨著技術發展,第三代半導體功率器件開始由實驗室階段步入商業應用,未來應用潛力巨大。通常這些新型器件測試要求更高的電壓和功率水平,更快的開關時間。西安長禾半導體積極布局第三代半導體功率器件的測試業務,引進國際先進的測試技術,為功率半導體產業上下游企業提供器件參數檢測服務,助力器件國產化、高新化發展。

測試標準:

覆蓋MIL-STD-750,IEC 60747系列,GB/T29332等標準;服務內容包括:靜態參數,動態參數,熱特性,雪崩耐量,短路特性及絕緣耐壓測試;設備支持0-1500A,0-3000V的器件參數檢測。HTGB測試、HTRB測試、HT3GB檢測實驗室

產品范圍:

MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半導體器件等分立器件,以及上述元件構成的功率模塊    HTGB測試、HTRB測試、HT3GB檢測實驗室

測試項目:

靜態參數 符號

Drain to Source Breakdown Voltage       BVDSS

Drain Leakage Current                             IDSS

Gate Leakage Current                              IGSS

Gate Threshold Voltage                          VGS(th)

Drain to Source On Resistance                RDS(on)

Drain to Source On Voltage                      VDS(on)

Body Diode Forward Voltage                      VSD

Internal Gate Resistance                                Rg

Input capacitance                                       Cies

Output capacitance                                  Coes

Reverse transfer capacitance                    Cres

Transconductance                                   gfs

Gate to Source Plateau Voltage          Vgs(pl)

動態參數 符號

Turn-on delay time                                  td(on)

Rise time                                                     tr

Turn-off delay time                                    td(off)

Fall time                                                       tf

Turn-on energy                                         Eon

Turn-off energy                                         Eoff

Diode reverse recovery time                       trr

Diode reverse recovery charge                 Qrr

Diode peak reverse recovery current       Irrm

Diode peak rate of fall of reverse

recovery current                                       dirr/dt

Total gate charge                                       QG

Gate-Emitter charge                                QGC

Gate-Collector charge                             QGE

其他參數 符號

thermal resistance                                    Rth

Unclamped Inductive Switching              UIS

Reverse biased safe operating area        RBSOA

Short circuit safe operation area            SCSOA  HTGB測試、HTRB測試、HT3GB檢測實驗室

網址/202103/22/10566050.htmlHTGB測試、HTRB測試、HT3GB檢測實驗室的產品說明信息可能還不夠細致和全面,如果您需要更詳細了解HTGB測試、HTRB測試、HT3GB檢測實驗室的相關信息或索取相關資料,歡迎隨時與我聯系!
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免責聲明:以上所展示的[長禾 HTGB測試、HTRB測試、HT3GB檢測實驗室]信息由會員[西安長禾半導體技術有限公司]自行提供,內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
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